Charge Trapping in ONO Interpoly Dielectric of FLOTOX EEPROM Cells

URL:	http://dx.doi.org/10.1016/S0167-9317(99)00415-3
Dokumenttyp:	Zeitschriftenartikel
Erscheinungsjahr:	1999
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	Microelectronic Engineering
Band/Volume:	48
Heft/Issue:	1/4
Seitenbereich:	411-414
Ort der Veröffentlichung:	Amsterdam [u.a.]
Verlag:	Elsevier
ISSN:	0167-9317
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Elektrotechnik (Fliege 1997-2008, Em)
Fachgebiet:	004 Informatik

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BASE: Brücklmeier, Eric-Roger ; Kux, Andreas ; Kakoschke, Ronald ; Palm, Herbert

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