UIO-based testbed augmentation for simulating cyber-physical systems

DOI:	https://doi.org/10.1109/MIS.2018.111144927
URL:	https://ieeexplore.ieee.org/document/8255796
Weitere URL:	https://www.researchgate.net/publication/322454842...
Dokumenttyp:	Zeitschriftenartikel
Erscheinungsjahr:	2018
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	IEEE Intelligent Systems
Band/Volume:	33
Heft/Issue:	6
Seitenbereich:	69-86
Ort der Veröffentlichung:	New York, NY [u.a.]
Verlag:	IEEE
ISSN:	1541-1672 , 1941-1294
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Fakultät für Betriebswirtschaftslehre > Wirtschaftsinformatik II (Becker 2006-2021)
Fachgebiet:	004 Informatik

Dieser Eintrag ist Teil der Universitätsbibliographie.

BASE: Liu, Rui ; Liang, Junbin ; Cao, Jiannong ; Zhu, Weiping ; VanSyckel, Sebastian ; Becker, Christian

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