Parameter detection of thin films from their x-ray reflectivity by support vector machines

Dokumenttyp:	Zeitschriftenartikel
Erscheinungsjahr:	2004
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	Applied Numerical Mathematics
Band/Volume:	48
Heft/Issue:	2
Seitenbereich:	223-236
Ort der Veröffentlichung:	Amsterdam
Verlag:	Elsevier
ISSN:	0168-9274
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Angewandte Mathematik u. Informatik (Steidl 1996-2011)
Fachgebiet:	004 Informatik

Dieser Eintrag ist Teil der Universitätsbibliographie.

BASE: Strauß, Daniel J. ; Steidl, Gabriele ; Welzel, Udo

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