Can patterns improve i* modeling? Two exploratory studiesStrohmaier, Markus ; Horkoff, Jennifer ; Yu, Eric ; Aranda, Jorge ; Easterbrook, Steve
BASE:
Strohmaier, Markus
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Horkoff, Jennifer
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Yu, Eric
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Aranda, Jorge
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Easterbrook, Steve
Google Scholar: Strohmaier, Markus ; Horkoff, Jennifer ; Yu, Eric ; Aranda, Jorge ; Easterbrook, Steve ORCID: Strohmaier, Markus ORCID: https://orcid.org/0000-0002-5485-5720, Horkoff, Jennifer, Yu, Eric, Aranda, Jorge and Easterbrook, Steve Aufruf-StatistikSie haben einen Fehler gefunden? Teilen Sie uns Ihren Korrekturwunsch bitte hier mit: E-Mail Actions (login required)
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