BASE: Adam, Wolfgang ; Berdermann, Eleni ; Bergonzo, Philippe ; Boer, Wim de ; Bogani, Franco ; Borchi, Emilio ; Brambilla, Marco ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D’Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Dulinski, W. ; Doroshenko, J. ; Doucet, M. ; Eijk, B. van ; Fallou, A. ; Fischer, Peter ; Fizzotti, F. ; Kania, D. ; Gan, K. K. ; Grigoriev, E. ; Hallewell, H. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kaplon, J. ; Kass, R. ; Keil, Markus ; Knöpfle, K. T. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Meuser, Stefan ; Logiudice, A. ; Mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Meier, D. ; Menichelli, D. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Noomen, J. ; Oh, A. ; Pan, L. S. ; Pernicka, M. ; Perera, L. ; Riester, J. L. ; Roe, S. ; Rudge, A. ; Russ, J. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Suter, B. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Vittone, E. ; Weilhammer, P. ; Wermes, Norbert ; Wetstein, M. ; Zeuner, W. ; Zöller, Mark A.

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