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Metzger, Noah ; Hoffmann, Lars ORCID: 0000-0002-9667-0310 ; Bartelt, Christian ; Stuckenschmidt, Heiner ORCID: 0000-0002-0209-3859 ; Wommer, Michael ; Bescos del Castillo, Maria Belen Towards trace-graphs for data-driven test case mining in the domain of automated driving. 41-48 In: Third IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing: AITest 2021 : proceedings : 23-26 August 2021, online event (2021) Piscataway, NJ 2021 IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing (AITest) (Oxford, UK, Online) [Konferenzveröffentlichung]

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