Erweiterte Suche

Waldian t tests: A sequential Bayes factor design for accepting and rejecting the null hypothesis with controlled error probabilities


Schnuerch, Martin ; Heck, Daniel W. ; Erdfelder, Edgar



Dokumenttyp: Präsentation auf Konferenz
Erscheinungsjahr: 2018
Veranstaltungstitel: 2018 Meeting of the European Mathematical Psychology Group
Veranstaltungsort: Genova, Italy
Veranstaltungsdatum: 30.07.-02.08.2018
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Sozialwissenschaften > Kognitive Psychologie u. Differentielle Psychologie (Erdfelder 2002-2019)
Fachgebiet: 150 Psychologie







Metadaten-Export


Zitation


+ Suche Autoren in

BASE: Schnuerch, Martin ; Heck, Daniel W. ; Erdfelder, Edgar

Google Scholar: Schnuerch, Martin ; Heck, Daniel W. ; Erdfelder, Edgar

ORCID: Schnuerch, Martin ORCID: https://orcid.org/0000-0001-6531-2265, Heck, Daniel W. ORCID: https://orcid.org/0000-0002-6302-9252 and Erdfelder, Edgar ORCID: https://orcid.org/0000-0003-1032-3981

+ Aufruf-Statistik

Aufrufe im letzten Jahr

Detaillierte Angaben



Sie haben einen Fehler gefunden? Teilen Sie uns Ihren Korrekturwunsch bitte hier mit: E-Mail


Actions (login required)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen