Towards trace-graphs for data-driven test case mining in the domain of automated driving


Metzger, Noah ; Hoffmann, Lars ; Bartelt, Christian ; Stuckenschmidt, Heiner ; Wommer, Michael ; Bescos del Castillo, Maria Belen



DOI: https://doi.org/10.1109/AITEST52744.2021.00019
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/9564100
Weitere URL: https://www.researchgate.net/publication/355346704...
Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2021
Buchtitel: Third IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing: AITest 2021 : proceedings : 23-26 August 2021, online event
Seitenbereich: 41-48
Veranstaltungstitel: 2021 IEEE International Conference on Artificial Intelligence Testing (AITest)
Veranstaltungsort: Oxford, UK, Online
Veranstaltungsdatum: 23.-26.08.2021
Ort der Veröffentlichung: Piscataway, NJ
Verlag: IEEE
ISBN: 978-1-6654-3482-9 , 978-1-6654-3481-2
Verwandte URLs:
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Practical Computer Science II: Artificial Intelligence (Stuckenschmidt 2009-)
Fachgebiet: 004 Informatik




Dieser Eintrag ist Teil der Universitätsbibliographie.




Metadaten-Export


Zitation


+ Suche Autoren in

+ Aufruf-Statistik

Aufrufe im letzten Jahr

Detaillierte Angaben



Sie haben einen Fehler gefunden? Teilen Sie uns Ihren Korrekturwunsch bitte hier mit: E-Mail


Actions (login required)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen