Relations between soft wavelet shrinkage and total variation denoising

URL:	http://dx.doi.org/10.1007/3-540-45783-6_25
Dokumenttyp:	Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr:	2002
Buchtitel:	Pattern Recognition : 24th DAGM Symposium Zurich, Switzerland, September 16–18, 2002. Proceedings
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	Lecture Notes in Computer Science
Band/Volume:	2449
Seitenbereich:	198-205
Herausgeber:	Gool, Luc van
Ort der Veröffentlichung:	Berlin [u.a.]
Verlag:	Springer
ISBN:	3-540-44209-X , 978-3-540-45783-1
ISSN:	0302-9743 , 1611-3349
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Angewandte Mathematik u. Informatik (Steidl 1996-2011)
Fachgebiet:	004 Informatik

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BASE: Steidl, Gabriele ; Weickert, Joachim

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