Fabrication and Testing of planar Micro Lens Arrays by Ion Exchange Technique in Glass


Bähr, Jochen ; Krackhardt, Ulrich ; Brenner, Karl-Heinz



Dokumenttyp: Konferenzveröffentlichung
Erscheinungsjahr: 2001
Buchtitel: Micro- and nano-optics for optical interconnection and information processing : 29 - 31 July 2001, San Diego, USA
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe: Proceedings of SPIE
Band/Volume: 4455
Seitenbereich: 281-292
Herausgeber: Taghizadeh, Mohammad R.
Ort der Veröffentlichung: Bellingham, Wash.
Verlag: SPIE
ISBN: 0-8194-4169-4
Sprache der Veröffentlichung: Englisch
Einrichtung: Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Optoelektronik (Brenner 1999-2008)
Fachgebiet: 004 Informatik
Freie Schlagwörter (Deutsch): Mikrooptik , Wellenfrontsensor
Freie Schlagwörter (Englisch): micro optics , testing , wavefront sensing
Abstract: The mask structured ion exchange in glass (MSI) is a powerful tool for realizing general planar phase distributions and in particular custom designed planar GRIN micro lenses with diffraction limited performance and high fill factor. For lens characterization the numerical aperture is a key parameter. However the classical geometrical definition of the N.A. disregards aberrations. Here we suggest an addition to this classical definition, which is based on diffraction limited performance. For a testing of micro lens arrays, global process parameters are assessed by interferometric measurements of a subset of the lenses. Local process variations typically result in small non-symmetric aberrations. Thes aberrations mainly lead to a lateral shift of the focus. Thus, for rapid quality control of micro lens arrays we analyze all focal positions in parallel. From the lateral deviations of the focal positions a quality criterion for each individual micro lens can be derived.




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