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Krackhardt, Ulrich ; Brenner, Karl-Heinz The Berry-Phase applied to optical Metrology. Kluge, Werner Proceedings of the Workshop on Physics and Computer Science 177-185 In: Proceedings of the Workshop on Physics and Computer Science ; (Physik, Informatik, Informationstechnik) ; Heidelberg, Germany, March 15-16, 1999 (1999) Kiel [Konferenzveröffentlichung]

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