Anzahl der Einträge: 1.
Mayer, Christian  ORCID: 0000-0002-0443-6624 ; Mauch, Sarah-Lea ; Leible, Stephan ; Seifried, Jürgen ORCID: 0000-0002-9460-7721
Competence-Based assessment for SAP4school: Adaption and pilot testing.
Mathis, Uta ; Scheruhn, Hans-Jürgen ; Weidner, Stefan ; Wittges, Holger ; Biener, André
238-245
In: SAP Academic Community Conference 2025 (D-A-CH) : Business process management drives digital transformation , Konferenzband der SAP Academic Community Conference 2025 (D-A-CH)
(2025)
Potsdam
SAP Academic Community Conference DACH 2025
(Potsdam, Germany)
[Konferenzveröffentlichung]
|
|
Diese Liste wurde am Sat Oct 11 01:29:04 2025 CEST automatisch erstellt. |
