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Knowledge diffusion and knowledge transfer : two sides of the medal
Klarl, Torben
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URL:
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http://ub-madoc.bib.uni-mannheim.de/2618
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URN:
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urn:nbn:de:bsz:180-madoc-26184
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Dokumenttyp:
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Arbeitspapier
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Erscheinungsjahr:
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2009
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Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:
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None
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Sprache der Veröffentlichung:
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Englisch
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Einrichtung:
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Sonstige Einrichtungen > ZEW - Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung
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MADOC-Schriftenreihe:
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Veröffentlichungen des ZEW (Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung) > ZEW Discussion Papers
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Fachgebiet:
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330 Wirtschaft
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Fachklassifikation:
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JEL:
C50 C51 C61 D83 ,
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Normierte Schlagwörter (SWD):
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Wissen , Wissenschaftstransfer , Wirtschaftsmodell
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Freie Schlagwörter (Deutsch):
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Network Externalities , Innovationsdiffusion
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Freie Schlagwörter (Englisch):
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Knowledge diffusion , knowledge transfer , SUR
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Abstract:
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Understanding the way in which knowledge is technically produced and transferred, and how its diffusion path can be characterized is of fundamental importance for the performance of an economy. Although this fact seems to be plausible ex ante, the relevant literature so far has paid less attention investigating the microeconomic link between knowledge transfer and knowledge diffusion in a comprehensive approach. The aim of this paper is to highlight the link between knowledge transfer, knowledge diffusion and network effects in a stochastic environment, because the adoption decision of new knowledge should be treated as a stochastic event. For this reason, a new knowledge diffusion model in the line of Bass (1969) has been put forward, which integrates knowledge diffusion and knowledge transfer. The advantage of the proposed model is twofold. From a theoretical point of view, not only the so-called unimodal diffusion phenomena can be modelled, but also bimodal diffusion phenomena can be obtained. From an empirical point of view, the model which incorporates heteroscedastic errors and mean reverting behaviour can be theoretically estimated directly within a standard SUR context.
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Zusätzliche Informationen:
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