Exploring the Tail of Patented Invention Value Distributions

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URL:	http://ub-madoc.bib.uni-mannheim.de/689
URN:	urn:nbn:de:bsz:180-madoc-6893
Dokumenttyp:	Arbeitspapier
Erscheinungsjahr:	1997
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	None
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Sonstige Einrichtungen > ZEW - Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung
MADOC-Schriftenreihe:	Veröffentlichungen des ZEW (Leibniz-Zentrum für Europäische Wirtschaftsforschung) > ZEW Discussion Papers
Fachgebiet:	330 Wirtschaft
Fachklassifikation:	JEL: O31 O34 ,
Normierte Schlagwörter (SWD):	Deutschland <Amerikanische Zone> , Patent , Schiefe Wahrscheinlichkeitsverteilung
Abstract:	We explore the tail of patented invention value distributions by using value estimates obtained directly from patent holders. The paper focuses on those full-term German patents of the application year 1977 which were held by West German and U.S. residents. The most valuable patents in our data account for a large fraction of the cumulative value over all observations. Several tests are conducted to pin down more precisely the nature of the high-value tail distribution. Among the Pareto, Singh-Maddala and log normal distributions, the log normal appears to provide the best fit to our patented invention value data.
Zusätzliche Informationen:

Das Dokument wird vom Publikationsserver der Universitätsbibliothek Mannheim bereitgestellt.

BASE: Harhoff, Dietmar ; Scherer, Frederic M. ; Vopel, Katrin

Google Scholar: Harhoff, Dietmar ; Scherer, Frederic M. ; Vopel, Katrin

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