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Anzahl der Einträge: 2.

2004

Strauß, Daniel J. ; Steidl, Gabriele ; Welzel, Udo (2004) Parameter detection of thin films from their x-ray reflectivity by support vector machines. Applied Numerical Mathematics Amsterdam 48 2 223-236 [Zeitschriftenartikel]

2001

Strauß, Daniel J. ; Steidl, Gabriele ; Welzel, Udo (2001) Parameter Detection of Thin Films From Their X-Ray Reflectivity by Support Vector Machines. Open Access None [Arbeitspapier]
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