Zur Validität von Embedded Experience Sampling (EES) bei der Messung nicht-kognitiver Facetten domänenspezifischer Problemlösekompetenz

Dokumenttyp:	Präsentation auf Konferenz
Erscheinungsjahr:	2020
Veranstaltungstitel:	GEBF-Tagung 2020, 8. Jahrestagung der Gesellschaft für Empirische Bildungsforschung (conference canceled)
Veranstaltungsort:	Potsdam, Germany, Canceled
Veranstaltungsdatum:	25.-27.03.2020
Verwandte URLs:	https://www.gebf-ev.de/deutsch/tagungen-...
Sprache der Veröffentlichung:	Deutsch
Einrichtung:	Fakultät für Betriebswirtschaftslehre > Wirtschaftspädagogik, Lernen im Arbeitsprozess (Rausch 2016-)
Fachgebiet:	330 Wirtschaft 370 Erziehung, Schul- und Bildungswesen

BASE: Rausch, Andreas ; Kögler, Kristina ; Seifried, Jürgen

Google Scholar: Rausch, Andreas ; Kögler, Kristina ; Seifried, Jürgen

ORCID: Rausch, Andreas

; Kögler, Kristina ; Seifried, Jürgen

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